Hyperspektrale Bildgebung zur Bestimmung der Oberflächentopografien

von Tom Niklas Lindner (18, Martin-Andersen-Nexö-Gymnasium Dresden)


Kategorie: Physik
Betreuer: Steffen Schäfer (Martin-Andersen-Nexö-Gymnasium Dresden), Wulf Grählert (Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS)
Wettbewerbsart: Jugend forscht

In der heutigen Industrie und der Wissenschaft ist es wichtig von Proben möglichst genau Eigenschaften bestimmen zu können. Für solche Messungen gibt es HSI (HyperSpectral Imaging)-Systeme, welche mit der Reflexion und Transmission von Licht Probeneigenschaften bestimmen. Allerdings ist neben der Materialinformation auch die Oberflächenstruktur eine wichtige Eigenschaft. Könnte man diese mit HSI-Systemen ermitteln, wären viele Materialien besser nutzbar.

Das Ziel dieser Arbeit ist es, mit HSI über die Interferenz von Licht die Oberflächentopografie einer beschichteten Probe zu ermitteln.

Dazu wurden Proben angefertigt und auf diese eine Glasplatte gelegt um sie dann mit zwei unterschiedlichen HSI-Messaufbauten zu messen. Nach der Auswertung mit Matlab versucht man die Dicke des Luftspaltes zwischen der Probe und der Glasplatte und damit die Höhe der Kanten zwischen den Schichten zu messen. Diese Werte sollen dann mit einer Referenzmessung mit einem Konfokalmikroskop verglichen werden.

Hyperspektrale Bildgebung zur Bestimmung der Oberflächentopografien